Electrónica Digital y Microprogramable

CAPACIDADES
TERMINALES

CRITERIOS DE
EVALUACIÓN

Analizar funcionalmente circuitos
electrónicos digitales, interpretando los esquemas
de los mismos y describiendo su funcionamiento.

– Describir las funciones lógicas
fundamentales utilizadas en los circuitos
electrónicos digitales.

– Explicar las funciones combinacionales
básicas (codificación, decodificación,
multiplexación, demultiplexación) utilizadas
en los circuitos electrónicos digitales, así
como la tipología y características de los
componentes utilizados para su
realización.

– Explicar las funciones secuenciales
básicas (memorización de estados
-biestables-, contadores, registros de desplazamiento)
utilizadas en los circuitos electrónicos digitales,
así como la tipología y
características de los componentes utilizados para
su realización.

– En varios casos prácticos de
análisis de circuitos electrónicos
digitales:

• Identificar los componentes y bloques
funcionales del circuito, relacionando los símbolos
que aparecen en los esquemas con los elementos
reales.

• Explicar la lógica de funcionamiento
de los componentes y bloques funcionales presentes en el
circuito, sus características y
tipología.

• Explicar el funcionamiento del circuito,
identificando los estados que lo caracterizan e
interpretando las señales presentes en el
mismo.

• Aplicar las leyes y teoremas fundamentales
del álgebra de Boole en el análisis de
funcionamiento del circuito, contrastando los estados
lógicos previstos con las señales reales
medidas en el mismo, explicando y justificando dicha
relación.

• Identificar la variación en los
parámetros característicos del circuito
(tensiones, estados lógicos, etc.) suponiendo y/o
realizando modificaciones en componentes del mismo,
explicando la relación entre los efectos detectados
y las causas que los producen.

• Elaborar un informe–memoria de las
actividades desarrolladas y resultados obtenidos,
estructurándola en los apartados necesarios para una
adecuada documentación de las mismas
(descripción del proceso seguido, medios utilizados,
esquemas y planos, explicación funcional, medidas,
cálculos, etc.).

CAPACIDADES
TERMINALES

CRITERIOS DE
EVALUACIÓN

Analizar funcionalmente circuitos
electrónicos realizados con dispositivos
microprogramables y sus periféricos asociados,
interpretando los esquemas de los mismos y describiendo su
funcionamiento.

– Explicar las diferencias básicas que
existen entre los circuitos electrónicos digitales
cableados y los circuitos programados.

– Explicar la tipología y
características de los dispositivos
periféricos utilizados en sistemas microprocesados,
describiendo las funciones que realizan y los
procedimientos de interconexión entre
ellos.

– Describir las diferencias fundamentales que
existen entre un microprocesador y un microcontrolador a
través de la descripción de su arquitectura
básica.

– Explicar los parámetros y
características fundamentales de un sistema
microprocesado (buses y su tipología, memoria,
interrupciones, reloj, reset, entradas/salidas paralelo y
serie, etc.)

– En un caso práctico de análisis de
un circuito electrónico microprocesado:

• Identificar los componentes y bloques
funcionales del circuito, relacionando los símbolos
que aparecen en los esquemas con los elementos
reales.

• Explicar la lógica de funcionamiento
de los componentes y bloques funcionales presentes en el
circuito, sus funciones, modos de operar
característicos y tipología.

• Explicar el funcionamiento del circuito,
relacionando las funciones que realiza el programa de
control con las señales de entrada/salida del
dispositivo microprocesador y sus periféricos
asociados.

• Identificar la variación en los
parámetros característicos del circuito
(tensiones, formas de onda, sincronización de
señales, etc.) suponiendo y/o realizando
modificaciones en componentes del mismo, explicando la
relación entre los efectos detectados y las causas
que los producen.

• Elaborar un informe-memoria de las
actividades desarrolladas y resultados obtenidos,
estructurándola en los apartados necesarios para una
adecuada documentación de las mismas
(descripción del proceso seguido, medios utilizados,
esquemas y planos, explicación funcional, medidas,
cálculos, etc.).

CAPACIDADES TERMINALES

CRITERIOS DE
EVALUACIÓN

Analizar los circuitos electrónicos de
tratamiento digital de magnitudes
analógicas.

– Explicar los principios y características
de conversión de señales analógicas a
digitales y viceversa para su tratamiento en sistemas
digitales y microprogramables.

– Explicar la tipología y
características de los dispositivos convertidores
A/D y D/A, describiendo las funciones que realizan y los
procedimientos de interconexión entre
ellos.

– Enumerar y describir tipos de sensores de
magnitudes físicas fundamentales (temperatura,
presión, intensidad luminosa, etc.), explicando sus
características y aplicaciones más comunes en
los equipos electrónicos de consumo.

– En varios casos prácticos de
análisis de circuitos electrónicos de
tratamiento digital de magnitudes
analógicas:

• Identificar los componentes y bloques
funcionales del circuito, relacionando los símbolos
que aparecen en los esquemas con los elementos
reales.

• Explicar la lógica de funcionamiento
de los componentes y bloques funcionales presentes en el
circuito, sus funciones, modos de operar
característicos y tipología.

• Explicar el funcionamiento del circuito,
relacionando las funciones que realiza la sección
analógica del circuito, el bloque de tratamiento
digital de la señal y los dispositivos de
conversión A/D y D/A.

• Analizar las variaciones en las
características funcionales del circuito suponiendo
modificaciones en componentes del mismo.

• Identificar los distintos bloques
funcionales, simbología y su relación con los
dispositivos reales, relacionando las magnitudes
eléctricas analógicas con el tratamiento
digital de las mismas y los procesos de conversión
correspondientes.

• Identificar la variación en los
parámetros característicos del circuito
(tensiones, formas de onda, sincronización de
señales, etc.) suponiendo y/o realizando
modificaciones en componentes del mismo, explicando la
relación entre los efectos detectados y las causas
que los producen.

• Elaborar un informe-memoria de las
actividades desarrolladas y resultados obtenidos,
estructurándola en los apartados necesarios para una
adecuada documentación de las mismas
(descripción del proceso seguido, medios utilizados,
esquemas y planos, explicación funcional, medidas,
cálculos, etc.).

CAPACIDADES TERMINALES

CRITERIOS DE
EVALUACIÓN

Realizar, con precisión y seguridad,
medidas en circuitos digitales y microprogramables,
utilizando el instrumento (sonda lógica, inyector de
pulsos, analizador de estados lógicos, etc.) y los
elementos auxiliares más apropiados en cada
caso.

– Explicar las características más
relevantes, la tipología y procedimientos de uso de
los instrumentos de medida utilizados en electrónica
digital y microprogramable.

– En el análisis y estudio de un circuito
electrónico digital y microprogramado:

• Seleccionar el instrumento de medida (sonda
lógica, inyector de señales, analizador de
estados lógicos, etc.) y los elementos auxiliares
más adecuados en función del tipo y
precisión requerida de la medida que se va a
realizar (estado lógico, sincronización de
señales, etc.).

• Conexionar adecuadamente los distintos
aparatos de medida en función de las
características de las señales que se van a
medir (estados lógicos y sincronización de
señales).

• Medir las señales y estados
lógicos propios de los circuitos digitales y
microprocesados, operando adecuadamente los instrumentos y
aplicando, con la seguridad requerida, procedimientos
normalizados.

• Interpretar las medidas realizadas,
relacionando los estados y sincronismos con las
características eléctricas y funcionales de
los circuitos.

• Elaborar un informe-memoria de las
actividades desarrolladas y resultados obtenidos,
estructurándola en los apartados necesarios para una
adecuada documentación de las mismas
(descripción del proceso seguido, medios utilizados,
esquemas y planos, explicación funcional, medidas,
cálculos, etc.).

Diagnosticar averías en circuitos
electrónicos digitales y microgramables de
aplicación general, empleando procedimientos
sistemáticos y normalizados en función de
distintas consideraciones.

– Explicar la tipología y
características de las averías típicas
de los componentes electrónicos digitales y
microprogramables.

– Describir las técnicas generales
utilizadas para la localización de averías en
circuitos electrónicos digitales y
microprogramables.

– En un caso práctico de simulación
de averías en circuito electrónico digital y
microprogramable:

• Identificar los síntomas de la
avería, caracterizándola por los efectos que
produce en el circuito.

• Interpretar la documentación del
circuito electrónico, identificando los distintos
bloques funcionales, las señales eléctricas,
estados lógicos y parámetros
característicos del mismo.

• Realizar al menos una hipótesis de
causas posibles de la avería, relacionándolas
con los efectos presentes en el circuito.

• Realizar un plan sistemático de
intervención para la detección de la causa o
causas de la avería.

• Medir e interpretar parámetros del
circuito, realizando los ajustes necesarios de acuerdo con
la documentación del mismo, utilizando los
instrumentos adecuados, aplicando procedimientos
normalizados.

• Localizar el bloque funcional y el
componente o componentes responsables de la avería,
realizando las modificaciones y/o sustituciones necesarias
para dicha localización con la calidad prescrita,
siguiendo procedimientos normalizados, en un tiempo
adecuado.

• Elaborar un informe-memoria de las
actividades desarrolladas y resultados obtenidos,
estructurándola en los apartados necesarios para una
adecuada documentación de las mismas
(descripción del proceso seguido, medios utilizados,
esquemas y planos, explicación funcional, medidas,
cálculos, etc.).

PROCEDIMIENTO(CONTENIDO
ORGANIZADOR)

ACTIVIDADES
DEENSEÑANZA-APRENDIZAJE

– Definición de electrónica
analógica y electrónica digital.

– Introducción a los sistemas de
numeración: binario, octal, hexadecimal y
BCD.

– Exponer la dualidad
símbolo-componente.

– Simbología, normas y uso.

– Realización de ejercicios de
conversión con sistemas de
numeración.

– Realización de tablas de
símbolos.

• Manejar tablas de verdad de sistemas
  simples.

• Prácticas de laboratorio: elementos
  básicos para la realización de
  prácticas de electrónica
  digital.

CONOCIMIENTOS(CONTENIDO
SOPORTE)

CRITERIOS DE
EVALUACIÓN

1.1. Sistemas analógicos y sistemas
digitales.

1.2. Sistemas de numeración.

1.2.1. Sistema decimal.

1.2.2. Sistema binario.

1.2.3. Sistema hexadecimal.

1.2.4. Sistema BCD

1.2.5. Tabla comparativa.

1.3. Cambios de base.

1.3.1. De cualquier base a decimal.

1.3.2. De cualquier base que sea potencia de dos,
a binario.

1.3.3. De cualquier base que no sea potencia de
dos a binario.

1.4. Códigos.

1.5. Circuitos digitales.

1.5.1. Niveles lógicos.

1.6 Tabla de verdad.

1.6.1. Combinaciones lógicas.

1.6.2. Estados indiferentes.

– Realizar conversión entre sistemas de
numeración.

– Utilizar correctamente los símbolos y su
interconexión.

• Realizar tablas de verdad.

• Manejar los elementos que hacen posible la
  realización de prácticas de circuitos
  digitales

PROCEDIMIENTO(CONTENIDO
ORGANIZADOR)

ACTIVIDADES
DEENSEÑANZA-APRENDIZAJE

– Obtención de la tabla de verdad de
circuitos con puertas lógicas.

– Interpretación de esquemas
eléctricos realizados con puertas
lógicas.

– Análisis del funcionamiento de circuitos
construidos con puertas lógicas.

– Análisis de disfunciones en circuitos con
puertas lógicas.

– Definición de las puertas lógicas:
símbolos y tablas de verdad.

– Introducción al álgebra de Boole y
a los teoremas de De Morgan.

– Descripción, funcionamiento,
ecuación, símbolo y tabla de verdad de las
diferentes puertas lógicas.

– Construir, mediante puertas lógicas,
tablas de verdad.

– Verificar mediante puertas los postulados del
álgebra de Boole.

• Verificar mediante puertas los teoremas de De
  Morgan.

• Realización de ejercicios y
  actividades.

• Montajes prácticos para afianzar el
  conocimiento de las distintas puertas
  estudiadas.

CONOCIMIENTOS(CONTENIDO
SOPORTE)

CRITERIOS DE
EVALUACIÓN

2.1. Retomemos el caso práctico.

2.1.1. Una nueva puerta.

2.2. Puertas básicas.

2.2.1. Puertas complementarias o
negadas.

2.3. Álgebra de Boole.

2.3.1. Funciones básicas
booleanas.

2.3.2. Postulados.

2.3.3. Propiedades.

2.3.4. Teoremas.

2.3.5. Utilización de puertas NAND y
NOR.

2.4. Funciones canónicas.

2.4.1. Notación simplificada de expresiones
canónicas.

2.4.2. Minimización de funciones
lógicas.

2.4.3. Mapas de Karnaugh

– Usar correctamente la simbología y la
tabla de verdad de las puertas lógicas.

– Deducir el funcionamiento de circuitos
realizados con puertas lógicas.

– Simplificar funciones simples.

– Expresar las ecuaciones canónicas de una
tabla de verdad.

PROCEDIMIENTO(CONTENIDO
ORGANIZADOR)

ACTIVIDADES
DEENSEÑANZA-APRENDIZAJE

– Definir las características de una
familia lógica.

– Exponer las características más
importantes de las diferentes familias
lógicas.

– Describir los procesos para la
interconexión entre familias.

– Medición de los parámetros
fundamentales de las familias lógicas más
usuales.

– Análisis de las características
específicas de cada familia (entradas sin conectar,
salidas de colector abierto, etc.).

• Realización de interconexiones entre
  puertas de diferentes familias
  lógicas.

• Identificación, en las hojas de
  características, de los parámetros
  especificados en el tema.

CONOCIMIENTOS(CONTENIDO
SOPORTE)

CRITERIOS DE
EVALUACIÓN

3.1. Características de las familias
lógicas.

3.1.1. Fuente de alimentación
(Vcc).

3.1.2. Retardo o tiempo de propagación
(tp).

3.1.3. Márgenes de corrientes y
voltajes.

3.1.4. Inmunidad al ruido.

3.1.5. Capacidad de carga.

3.1.6. Disipación de potencia.

3.1.7. Producto retardo-potencia.

3.2. Tabla comparativa entre familias
lógicas.

3.3. Familia TTL: lógica
transistor-transistor.

3.4. Familia CMOS: lógica con transistores
MOS complementarios.

3.5. Otras familias

3.5.1. Familia RTL (lógica con resistencia–
transitor).

3.5.2. Familia DTL (lógica
diodo-transistor).

3.5.3. Familia ECL (lógica de acoplamiento
por emisor).

3.6. Compatibilidad lógica entre
familias.

3.7. Clasificación de las familias TTL y
CMOS

3.7.1. Subfamilias TTL.

3.7.2. Subfamilias CMOS.

3.7.3. Dígitos de identificación de
las puertas.

3.8. Entradas no usadas.

3.9. Hojas de características.

3.10. Puertas triestado o de alta
impedancia.

– Conocer los parámetros más
importantes de las diferentes familias.

– Conocer los problemas de la interconexión
entre familias diferentes.

• Localizar problemas en las conexiones de
  circuitos lógicos.

• Identificar los circuitos integrados por su
  denominación y realizar la búsqueda de
  sus características interpretándolas
  correctamente. .

PROCEDIMIENTO(CONTENIDO
ORGANIZADOR)

ACTIVIDADES
DEENSEÑANZA-APRENDIZAJE

– Describir los diferentes circuitos
combinacionales, utilizando el símbolo, la
ecuación y la tabla de verdad de cada uno de
ellos.

– Introducir a las técnicas de
implementación de funciones mediante el uso de
circuitos combinacionales estándar.

– Analizar disfunciones con circuitos
combinacionales.

– Verificar las tablas de verdad de dispositivos
combinacionales integrados y de sus circuitos equivalentes
utilizando puertas lógicas.

• Realización de ejercicios para afianzar
  los conocimientos teóricos.

• Diversas prácticas de aplicación
  de módulos combinacionales.

CONOCIMIENTOS(CONTENIDO
SOPORTE)

CRITERIOS DE
EVALUACIÓN

4.1. Decodificadores.

4.1.1. Decodificadores. Generalidades.

4.1.2. Decodificadores con
habilitación.

4.1.3. Decodificadores BCD – a – 7
segmentos.

4.2. Codificadores.

4.3. Multiplexores.

– Distinguir los diferentes dispositivos
combinacionales que forman un circuito lógico,
deduciendo el funcionamiento de cada dispositivo y el del
sistema.

– Describir con la tabla de verdad los circuitos
combinacionales.

– Manejar correctamente información
técnica.

– Seleccionar correctamente los puntos de medida
más representativos para verificar el funcionamiento
del circuito.

PROCEDIMIENTO(CONTENIDO
ORGANIZADOR)

ACTIVIDADES
DEENSEÑANZA-APRENDIZAJE

• Funciones de aritmética binaria y
  BCD.

• Diferencias entre operaciones lógicas
  y aritméticas.

– Dispositivos aritméticos,
descripción, funcionamiento, ecuación y
tabla de verdad.

– Análisis funcional de dispositivos
aritméticos digitales.

• Análisis de disfunciones en circuitos
  con dispositivos aritméticos
  digitales.

• Conocimiento de los circuitos
  comparadores.

– Análisis funcional de circuitos con
dispositivos aritméticos.

– Identificación de los bloques
funcionales de aplicaciones realizadas con dispositivos
aritméticos digitales.

• Análisis de circuitos
  aritméticos digitales comerciales, utilizando
  documentación técnica para la
  interpretación de los datos más
  característicos.

• Manejo de las operaciones de suma y
  resta.

• Aplicaciones en ejercicios con complemento a
  uno y complemento a dos.

• Prácticas de laboratorio para
  afianzar conocimientos adquiridos.

CONOCIMIENTOS(CONTENIDO
SOPORTE)

CRITERIOS DE
EVALUACIÓN

5.1. Suma binaria.

5.1.1. Semisumadores.

5.1.2. Sumador binario completo.

5.1.3. Sumador de N bits.

5.2. Resta binaria.

5.3. Números negativos

5.3.1. Complemento a uno.

5.3.2. Complemento a dos.

5.4. Unidad aritmético-lógica
(ALU).

5.5. Comparadores

– Distinguir los diferentes tipos de circuitos
aritméticos por su símbolo, reconociendo
entradas, salidas, etc.

– Deducir el funcionamiento de circuitos con
dispositivos aritméticos digitales.

• Analizar y solucionar disfunciones en
  circuitos con dispositivos aritméticos
  digitales.

• Utilizar los comparadores para comparar
  números de N bits, conectándolos
  convenientemente.