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Diseño de Hardware de Alta Velocidad (Powerpoint)




Enviado por Pablo Turmero



Partes: 1, 2, 3


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    1
    La Integridad de Señal
    ¿Qué es la SI?La integridad de la señal implica la distribución de señales digitales y analógicas de una parte de un circuito a otra de manera que la información contenida sea transportada de forma determinística y fiable.

    Ingeniería/Verificación de la SI: La verificación de la SI ocurre durante la fase de diseño para asegurar que un sistema cumple o excede las especificaciones de fabricación, de fiabilidad y de las normativas de la Industria.
    1
    0
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    1
    1
    Logic
    Signal
    +5 Volt
    Supply
    Ground
    Text-Book View of Digital Signals
    Logic
    Signal
    +5 Volt
    Supply
    Ground
    Real View of Digital Signals (analog)

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    SI – Problemas y Soluciones
    (Gp:) Osciloscopios, Sondas y Analizadores Lógicos Tektronix
    ….. los “Ojos” del Ingeniero

    Integridad de Señal (el problema)
    “Integridad” – definida como “completa y sin defectos”
    SI en el diseño analógico/digital consiste en la transmisión de señales de calidad suficiente, inluyendo la capacidad de recuperar y reconstruir la señal
    Fidelidad de Señal (La Solución de Tektronix)
    “Fidelidad” es el grado de exactitud y repetibilidad en la reproduccción de las señales para su análisis y depuración
    No se quiere ser parte del problema cambiando las características de las señales – Se quiere ser lo menos intrusivo posible durante la captura, visualización y análisis de señales.

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    SI – Normativas de la Industria
    Buscar: AC Parametrics, AC Specs, AC Timing, Clock Specs

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    Lo que nos Dicen los Clientes – Tecnologías
    Velocidades más elevadas
    2.5 Gb/s PCI Express (3GIO)
    3.125 Gb/s XAUI
    333 MHz DDR
    1+ GHz RDRAM
    3.125Gb/s SFI-5
    2.5 Gb/s InfiniBand
    1.6 GHz HyperTransport
    (Gp:) CPU
    (Gp:) 3GIO
    (Gp:) Switch
    (Gp:) MobileDocking
    (Gp:) 3GIO
    (Gp:) Memory
    (Gp:) Local I/O
    (Gp:) Graphics
    (Gp:) HDD
    (Gp:) Serial ATA
    (Gp:) PCI
    (Gp:) Memory Bridge
    (Gp:) MobileDocking
    (Gp:) MobileDocking
    (Gp:) USB 2.0
    (Gp:) I/O Bridge
    (Gp:) 3GIO
    (Gp:) 3GIO

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    5
    La Innovación
    Las velocidades en uso actualmente crean más problemas de integridad:

    Arquitectura de buses síncronos más rápidos
    Relojes y Datos más rápidos
    Transiciones más cortas
    Tiempos de “setup & hold” más críticos
    Problemas eléctricos y físicos
    Excursiones de tensión menores
    Señales diferenciales de alta velocidad
    Interconexiones de impedancia controlada
    Dificultad de conexión
    Interfases Opticas / Eléctricas

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    Problemática de Diseño
    (Gp:) Elect / Optical Signal Conformance Test
    (Gp:) Jitter Analysis
    (Gp:) Timing Margins
    (Gp:) Signal Integrity
    (Gp:) Prototype Debug

    “Para conseguir diseños fiables hay que analizar cuidadosamente el comportamiento temporal, la distribución de la placa de circuito, la Integridad de Señal, las EMI, y la termodinámica del sistema”

    Los diseños incorporan más comunicaciones serie
    Las velocidades de datos más elevadas a menudo requieren de interconexiones ópticas

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    Los Requerimientos de Medida de la SI según Nuestros Clientes
    Tiempos de subida menores de 200ps
    Jmedidas de jitter de 50ps pp
    Medidas Opticas y Diferenciales
    Tiempos S&H menores 200ps
    Sin transmisión de reloj
    Conformidad con máscaras estándar
    Medidas específicas de la aplicación
    Análisis de datos en serie
    La integridad de señal es nuestro mayor problema

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    Problemática de Medida
    Velocidades de datos y reloj mayores
    Tiempos subida/bajada más rápidos
    Tiempos S&H más cortos
    Especificaciones de jitter más exigentes
    Excursiones de tensión menores
    Señales diferenciales
    Problemas de impedancia y terminación
    Arquitecturas de bus síncronas
    Mayor número de señales a observar
    Dificultad de acceso
    Dificultad de depuración
    Los diseñadores digitales necesitan correlacionar las características digitales y analógicas de un SUT

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    Medidas de “Conformidad” en Osciloscopios
    Ejemplo InfiniBand:

    Consideraciones sobrer el ancho de banda eléctrico del sistema:
    BW Osciloscopio = bit rate eléctrico X 1.8
    (regla aproximada de las especificaciones Fiber Channel)
    Para InfiniBand Eléctrico @ 2.5 Gb/s signinfica > 4.5 GHz
    (para XAUI @ 3.125 Gb/s significa 6GHz)

    Consideraciones sobrer el ancho de banda óptico del sistema :
    BW Sistema= bit rate óptico X 0.75
    BW filtrado por el Receptor Optico de Referencia (ORR)
    para STM-16 –3db @1.87GHz, los límites se extienden hasta 4GHz

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    Ancho de Banda/Precisión Amplitud
    A la frecuencia de corte a 3dB, el error de amplitud será ~ 30%.
    La especificación de error de amplitud es típicamente del 3% max.
    (Gp:) trise
    (Gp:) 0.35 *
    (Gp:) BW =
    (Gp:) * Esta constante se basa en un modelo de 1er orden – en osciloscopios de altísimo ancho de banda la constante puede llegar a ser tan alta como 0.45

    (Gp:) 70.7 (- 3 dB)
    (Gp:) 0.1
    (Gp:) 0.2
    (Gp:) 0.3
    (Gp:) 0.4
    (Gp:) 0.5
    (Gp:) 0.6
    (Gp:) 0.8
    (Gp:) 0.9
    (Gp:) 1.0
    (Gp:) 0.7
    (Gp:) 100
    (Gp:) 97.5
    (Gp:) 95
    (Gp:) 92.5
    (Gp:) 90
    (Gp:) 87.5
    (Gp:) 85
    (Gp:) 82.5
    (Gp:) 80
    (Gp:) 77.5
    (Gp:) 75
    (Gp:) 72.5
    (Gp:) } 3%
    (Gp:) Frecuencia Normalizada
    (Gp:) Amplitud (%)

    Osciloscopios

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    11
    Ancho de Banda & Armónicos
    Onda Cuadrada Digital – Suma de Componentes Impares
    -1
    0
    1
    0
    50
    100
    (Gp:) Fundamental (1er Armónico)

    (Gp:) 5o Armónico

    (Gp:) 3er Armónico

    (Gp:) Suma Fourier (1er-5o Armónico)

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    Consideraciones sobre Flancos Rápidos
    (Gp:) Non-Monotonic
    (Non-Linearity)

    Hay que asegurarse de que las sondas y el sistema de medida no son las causas de estos problemas.

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    13
    (Gp:) Igual BW de la transición
    Doble que el BW
    Tres veces el BW
    Cinco veces el BW
    (Gp:) Ancho de Banda Osciloscopio/Sonda:
    (Gp:) 41%
    12%
    5%
    2%
    (Gp:) Error Tiempo de Subida=

    Consideraciones sobre Flancos Rápidos
    ¡Lo que no vemos nos puede dañar!
    (Gp:) Forma de Onda Real cuando:
    BW Osciloscopio= 5X BW Flanco
    (~2% Error de Tiempo de Subida)

    (Gp:) 41% Error de Tiempo de Subida: BW Osciloscopio= BW

    (Gp:) REGLA: Especificar el conjunto Osciloscopio + Sonda con un BW del sistema de 3 a 5 veces mayor que el de la señal a medir.
    (Gp:) tr(medición) » [ tr(osciloscopio)2 + tr(sonda)2 + tr(señal)2 ]

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    Tiempos Setup/Hold < 200ps (Ventana Válidez)
    Tiempos s&h Rambus ~200ps
    DDR <250ps
    Firewire 1394b skew <100ps
    Requiere alineación del orden del ps
    (Gp:) SETUP TIME
    (Gp:) HOLD TIME
    (Gp:) DATA VALID

    (Gp:) CLOCK
    (Gp:) DATA
    (Gp:) A
    (Gp:) B
    (Gp:) C

    Utillaje de Alineación (Deskew)

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    15
    Especificaciones
    Medidas: Overshoot, Undershoot, Ringback

    Monotonicidad (Linealidad)
    (Gp:) Diagrama de Ojo: p.e. USB

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    16
    Consideraciones
    Respuesta Transitoria
    Tiempos Subida/Bajada
    Overshoot / Undershoot
    Fidelidad de Señal
    Carga
    Capacidad Análisis TDR
    Caracterización Impedancia
    Conectores, backplanes, etc.

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